Modos vibracionales en heteroestructuras semiconductoras
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PDFResumen
El modelo fenomenológico de onda larga se aplica para estudiar el transporte de fonones a través de una heteroestructura semiconductora. A partir de la ecuación de continuidad del sistema se obtiene un tiempo caracterÃstico, análogo al tiempo de estancia para electrones; asà como una relación analÃtica general entre los tiempos de transmisión y reflexión y el tiempo de estancia. Las propiedades básicas de la matriz de transferencia y la equivalencia de los tiempos de transmisión y reflexión son derivadas teóricamente partiendo de principios generales; tales como la invarianza ante la inversión en el tiempo y la invariancia ante la reflexión espacial de la ecuación de onda y la conservación del flujo de la densidad de energÃa.
Se investiga un fenómeno análogo al efecto Hartman y se propone una posible explicación del mismo sobre la base de la saturación de la energÃa vibracional almacenada en la región de la barrera. Se introduce el concepto de impedancia generalizada y su posible aplicación en el cálculo de las amplitudes de las ondas en las diferentes regiones que conforman a una estructura arbitraria. Se realizan cálculos numéricos y analÃticos para fonones acústicos y ópticos. En particular, se validan los resultados teóricos y experimentales para el caso de un reflector de Bragg distribuido fabricado de Silicio poroso.
Los resultados de esta propuesta han sido publicados en 11 revistas arbitradas de circulación internacional y expuestos en 20 eventos de participación internacional. Además, han contribuido a la formación de recursos humanos los cuales se resumen en dos tesis de doctorados, una tesis de maestrÃa y una tesis de grado. Avalan los resultados obtenidos diversos reconocimientos nacionales (3), la obtención de tres premios CITMA provinciales y destacados miembros de la comunidad cientÃfica nacional (2).
Este trabajo es útil para el diseño de nuevos dispositivos fonónicos.
Copyright (c) 2021 Lorenzo Villegas Villegas DarÃo Gustavo Santiago Pérez, et al.
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